Desenvolvimento de Métodos de Análise e modelagem de dados de Difração e Espalhamento a Baixos Ângulos

Informações
Tipo de Projeto: 
Pesquisa
Coordenador: 
Cristiano Luis Pinto de Oliveira
Pesquisadores envolvidos: 
Jan Skov Pedersen, Cassio Alves, Yang Sun
Agência de Fomento: 
FAPESP 15/01732-0
Finalizado: 
Não
Inicio: 
2015
Resumo
"Métodos espectroscópicos são amplamente utilizados para o estudo dos mais variados tipos de sistemas. Estes métodos são baseados nas diversas formas de interação que a radiação possui com a matéria, dependendo de sua faixa de energia. Uma grande classe de métodos espectroscópicos são os métodos de espalhamento de luz, particularmente luz visível e raios X, bem como espalhamento de nêutrons. Nestes casos os dados experimentais podem fornecer informações estruturais importantes sobre o sistema como, por exemplo, forma das partículas, arranjo estrutural, variação da densidade de contraste eletrônico, resposta a agentes externos como temperatura, pH, força iônica etc. No entanto, a principal dificuldade da utilização destes métodos consiste na análise e interpretação dos resultados. Proponho neste projeto o desenvolvimento de métodos de simulação, análise e modelagem de dados experimentais de espalhamento a baixos ângulos que são utilizados em uma vasta gama de aplicações, permitindo a correta análise e descrição de dados experimentais obtidos bem como a obtenção de parâmetros estruturais pertinentes. Este conjunto de ferramentas será disponibilizado à comunidade cientifica para aplicação em estudos de variados tipos de sistemas. (AU)